Εργαστήριο Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας και Δομικού Χαρακτηρισμού Υλικών

Εργαστήριο Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας και Δομικού Χαρακτηρισμού Υλικών Ερευνητικά Εργαστήρια

Σχολή: Θετικών Επιστημών - Τμήμα: Φυσικής

Τομέας: Φυσικής Στερεάς Κατάστασης

Διευθυντής: Φιλομήλα Κομνηνού

ΦΕΚ Ίδρυσης: 221Α/29-10-1997

Τηλέφωνο Επικοινωνίας: +30 2310 998146 - Email: elmiclab@physics.auth.gr

  • Ερευνα

    Το Εργαστήριο Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας και Δομικού Χαρακτηρισμού των Υλικών του Τμήματος Φυσικής του ΑΠΘ (ΕΗΜΔΧΥ/ΤΦ/ΑΠΘ) ιδρύθηκε το 1963. Είναι το πρώτο και μοναδικό θεσμοθετημένο εργαστήριο Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας στην Ελλάδα (Φ.Ε.Κ 221A/29.10.1997). Με πλέον των 50 ετών λειτουργίας, η μακρόχρονη ερευνητική δραστηριότητα των μελών του υποστηρίζει οριζόντια την καινοτομία στους τομείς τεχνολογίας αιχμής και έχει καθιερώσει το ΕΗΜΔΧΥ ως ένα από τα πρωτοπόρα κέντρα αριστείας και έρευνας στη Φυσική και την Επιστήμη των Υλικών τόσο στον Ελλαδικό χώρο όσο και διεθνώς. Τα μέλη του εργαστηρίου ασχολούνται συστηματικά με εκπαιδευτικές και ερευνητικές δραστηριότητες στο γνωστικό αντικείμενο της Φυσικής των Υλικών με έμφαση στην ολιστική διερεύνηση της δομής των υλικών με τις μεθόδους και τεχνικές της αναλυτικής Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας διέλευσης (ΤΕΜ) και διέλευσης/σάρωσης (STEM), από τη μακροσκοπική έως την ατομική κλίμακα διαστάσεων, σε συνδυασμό με προσομοιώσεις, μοντελοποίηση και ενεργειακούς υπολογισμούς των δομών. Στόχος είναι η σύνδεση της δομής με τις διαδικασίες/διεργασίες ανάπτυξης/κατεργασίας των υλικών και τις μακροσκοπικές φυσικές τους ιδιότητες.
    Το εργαστήριο έχει ως αποστολή:
    1. Την κάλυψη σε προπτυχιακό και μεταπτυχιακό επίπεδο των διδακτικών και ερευνητικών αναγκών του Τμήματος Φυσικής και συνεργαζόμενων τμημάτων του ΑΠΘ
    2. Τη συνεργασία στην έρευνα και διδασκαλία με ερευνητικά κέντρα και ακαδημαϊκά ιδρύματα της ημεδαπής και αλλοδαπής, εφόσον οι επιστημονικοί τους στόχοι συμπίπτουν ή συμβαδίζουν ή αλληλοσυμπληρώνονται με εκείνους του εργαστηρίου.
    3. Το συντονισμό ή τη συμμετοχή σε ανταγωνιστικά ερευνητικά προγράμματα χρηματοδοτούμενα από Εθνικούς και διεθνείς φορείς και Οργανισμούς.
    4. Τη διοργάνωση επιστημονικών διαλέξεων, ημερίδων, σεμιναρίων, συμποσίων, συνεδρίων και άλλων επιστημονικών εκδηλώσεων, τις επιστημονικές δημοσιεύσεις και εκδόσεις, και την πρόσκληση Ελλήνων και ξένων αναγνωρισμένων επιστημόνων.
    5. Την παροχή υπηρεσιών σε εθνικούς και διεθνείς οργανισμούς, δημόσιες ή ιδιωτικές επιχειρήσεις, και νομικά ή φυσικά πρόσωπα ιδιώτες και σε κάθε νομικής μορφής οργανισμούς κατά το προβλεπόμενα από τους εκάστοτε εν ισχύ νόμους και προεδρικά διατάγματα που διέπουν τη λειτουργία των εργαστηρίων των ΑΕΙ.

  • 1. Ηλεκτρονικό μικροσκόπιο διέλευσης-σάρωσης/διέλευσης υψηλής ανάλυσης με πηγή ηλεκτρόνιων ψυχρής εκπομπής πεδίου JEOl JEM F200 CFEG TEM/STEM

    • Διακριτική ικανότητα σε λειτουργία ΤΕΜ 0.19 nm
    • Διακριτική ικανότητα σε λειτουργία STEM 0.14 nm

    JEOl JEM F200 CFEG TEM/STEM

    2. Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης Υψηλής Ανάλυσης JEOL 2011 (200KV), με διακριτική ικανότητα 0.194 nm, εξοπλισμένο με:

    • Σύστημα κάμερας EMSIS XAROSA CMOS 20 megapixel & Λογισμικό RADIUS.
    • Διάταξη Μετάπτωσης Ηλεκτρονικής Δέσμης SPININGSTAR

    3. Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης Υψηλής Ανάλυσης JEOL 2000FX (200KV), με διακριτική ικανότητα 0.28 nm

    • Σύστημα CCD κάμερας KeenView

    4. Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Διέλευσης JEOL 100 CX (100 KV) με διακριτική ικανότητα καλύτερη από 0.5 nm και υποδοχείς δείγματος με δυνατότητα ψύξης, θέρμανσης και εφελκυσμού.

    Μικροσκόπιο Ατομικών Δυνάμεων (AFM) Explorer 2000 Truemetrix Topometrix, δύο σαρωτών των 100 μm x 100 μm, 2.5 μm x 2.5 μm και υγρό σαρωτή των 2.5 μm x 2.5 μm με ανάλυση μερικών nm.

Προσωπικό Εργαστηρίου

Ονοματεπώνυμο

Μέλος

Σύνδεσμοι

Φιλομήλα Κομνηνού

ΔΕΠ

Νικόλαος Φράγκης

ΔΕΠ

Θωμάς Κεχαγιάς

ΔΕΠ

Γεώργιος Δημητρακόπουλος

ΔΕΠ

Χρήστος Λιούτας

ΔΕΠ

Ιωσήφ Κιοσέογλου

ΔΕΠ

Νικόλαος Βουρουτζής

ΔΕΠ

Ελένη Παυλίδου

ΔΕΠ

Μαυροειδής Αγγελακέρης

ΔΕΠ